Vingt ans après avoir révolutionné le marché, Hitachi réaffirme sa position de leader mondial avec le TM4000Plus III. Ce Microscope Électronique à Balayage (MEB) de paillasse de nouvelle génération allie puissance et simplicité d’utilisation pour répondre aux exigences de contrôle topographique et d'analyse chimique.
Performance et Polyvalence
Grâce à son mode « pression contrôlée », le TM4000Plus III permet l'observation directe de tous vos échantillons (conducteurs, isolants, secs ou humides) sans préparation complexe.
- Imagerie Haute Résolution : Atteignez des grandissements jusqu’à x250 000.
- Double Détection : Equipé d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés haute sensibilité et d'un détecteur d'électrons secondaires (UVD) pour révéler les moindres détails de surface.
- Analyse Chimique : Intégration de spectromètres EDS (Bruker, Oxford ou EDAX) pour une cartographie élémentaire précise.
Automatisation et Ergonomie
Conçu pour optimiser le flux de travail des laboratoires, ce modèle introduit des fonctions automatiques avancées :
- Navigation Intuitive : Visualisation optique pour une localisation instantanée des zones d'intérêt.
- Technologie IFT : Suivi intelligent de la durée de vie du filament pour anticiper la maintenance et garantir une disponibilité maximale.
- Interface Simplifiée : Automatisation du déplacement de la platine et de la capture d'image.
Un outil sur-mesure
De la reconstruction 3D au dispositif STEM en passant par l'analyse automatique de particules, le TM4000Plus III évolue avec vos projets de recherche et de contrôle qualité.
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Retrouvez-nous au LABORAMA Bruxelles, les 19 et 20 mars 2026, au stand B19
