Objectifs :
- Connaître les principes de la microscopie électronique à balayage et de la FIB, appliqués à la science des matériaux
- Préparer et observer des échantillons simples
- Paramétrer et utiliser les différents détecteurs
- Interpréter les images des différents signaux

Public :
Chercheurs, ingénieurs et techniciens amenés à utiliser le MEB ou à exploiter des résultats de MEB en science des matériaux.
Afin d'adapter le programme aux attentes des stagiaires, nous proposons différents ateliers pratiques (voir liste ci-dessous) ainsi que la possibilité de réaliser une analyse sur un de vos échantillons.

Prérequis :
connaissance de base en sciences des matériaux (BAC+2 minimum)

Programme de la formation :
La formation s’effectue sur deux jours : Cours (5 heures), Travaux Pratiques (9 heures)

COURS
MEB généralités
- Source d’électrons, optique électronique, balayage
- Aperçu sur la technologie du vide
- Interactions électron-matière
- Détection des différents signaux et imageries associées
- Applications

Préparation d’échantillons
- Echantillons sensibles
- FIB : Source d’ions, interactions ion-matière
- Ultra-microtomie
- Applications

+ Ateliers pratiques

Contact :
TESCAN ANALYTICS
Tél. : +33 (0)4 42 53 83 10
email : contact-analytics@tescan.com